オシロスコープによるDDRxデバイス信号の観測に最適な物理プロービングポイントを提供します。

DDRxメモリ測定インターポーザ

NEXUS Technologyのコンポーネントインターポーザは,オシロスコープによる
DDRxデバイス信号の観測に最適な物理プロービングポイントを提供します。

測定容易性とシグナルインテグリティのトレードオフを考慮,終端抵抗内蔵基板を
ベースとした次の3種類のタイプが用意されています。

・ソケットマウント:
    DUT, インターポーザ本体共にGrypperソケットで着脱交換可能。
・ダイレクトタイプ:
    DUT, インターポーザ本体共にハンダ実装で固定。
・Edge Probe:
    ダイレクトタイプと同構造。インターポーザ基板エッジ部にプローブポイントを設け,メモリ直近での測定が可能。

※ 他に,ロジックアナライザ対応インターポーザもラインアップされています。

DDR4

DDR3/DDR2

GDDR5