Home ソリューション, メモリデバイステストソリューション, 製品とサービス, 高速デジタル計測, SI/PI DDRxメモリ測定インターポーザ DDRxメモリ測定インターポーザ 2017.03.12 ソリューション、メモリデバイステストソリューション、製品とサービス、高速デジタル計測, SI/PI オシロスコープによるDDRxデバイス信号の観測に最適な物理プロービングポイントを提供します。 DDRxメモリ測定インターポーザ NEXUS Technologyのコンポーネントインターポーザは,オシロスコープによるDDRxデバイス信号の観測に最適な物理プロービングポイントを提供します。 測定容易性とシグナルインテグリティのトレードオフを考慮,終端抵抗内蔵基板をベースとした次の3種類のタイプが用意されています。 ・ソケットマウント: DUT, インターポーザ本体共にGrypperソケットで着脱交換可能。・ダイレクトタイプ: DUT, インターポーザ本体共にハンダ実装で固定。・Edge Probe: ダイレクトタイプと同構造。インターポーザ基板エッジ部にプローブポイントを設け,メモリ直近での測定が可能。 ※ 他に,ロジックアナライザ対応インターポーザもラインアップされています。 資料-プロービングの悩みを解決するソケット技術 4.53 MB Download 資料: Designing High Performance Interposers with 3-port and 6-port S-parameters (DesignCon 2015) 3.34 MB Download DDR4 データシート: DDR4 Edge Probe 308.58 KB Download データシート: DDR4 ソケットマウント 341.26 KB Download DDR3/DDR2 データシート: DDR3 Edge Probe 330.31 KB Download データシート: DDR3ソケットマウント 793.93 KB Download データシート: DDR2ソケットマウント 454.05 KB Download GDDR5 データシート: GDDR5 ダイレクトタイプ 133.75 KB Download データシート: GDDR5 ソケットマウント 231.65 KB Download Introspect Technology 社 SerDesテスター「SV2C」導入事例 Introspect Technology システム指向設計検証用の新しい16レーン・17Gbps SerDesテスタ 「SV5C」を発表 広帯域 PCBコネクタ&ケーブル SerDesテストソリューション 3D電磁界解析ベース シグナルインテグリティ・ソフトウェア SIモデリング・プラットフォーム コンプライアンステスト用フィクスチャ DDRxメモリ測定インターポーザ IConnect® TDR/Sパラメータ解析ツール Tweet Share Hatena Pocket RSS feedly Pin it