Home ソリューション, 製品とサービス, 高速デジタル計測, SI/PI, 高速デジタル計測ソリューション Keysight EEsof EDAソフトウェア Keysight EEsof EDAソフトウェア 2017.06.1 ソリューション、製品とサービス、高速デジタル計測, SI/PI、高速デジタル計測ソリューション キーサイト・テクノロジーのEDAソフトウェアラインアップから, 最新ソリューションのSIPro/PIProを始めとする,高速デジタル回路設計に向けた解析ツール群を提案します。 SIPro / PIPro <コンセプト>・SI, PI, EMCの統合解析プラットフォーム・3D-EM精度と,大規模問題対応/高速処理の両立 <アーキテクチャ>・Momentum + FEMテクノロジによる Composite Element Method・ADSベース - レイアウト, スケマティックGUI - 回路解析 <主な解析機能>・DC IRドロップ, 電流密度・PDNインピーダンス・PDN+IO Sパラメータ・電界/磁界/電流密度分布・トランジェント, コンボリューション Advanced Design Systems (ADS) Advanced Design Systems (ADS) RF/マイクロ波/高速デジタル デザインプラットフォーム EMPro EMPro 3D電磁界モデリング, シミュレーション Introspect Technology 社 SerDesテスター「SV2C」導入事例 Introspect Technology システム指向設計検証用の新しい16レーン・17Gbps SerDesテスタ 「SV5C」を発表 Keysight EEsof EDAソフトウェア 広帯域 PCBコネクタ&ケーブル SerDesテストソリューション 3D電磁界解析ベース シグナルインテグリティ・ソフトウェア SIモデリング・プラットフォーム コンプライアンステスト用フィクスチャ DDRxメモリ測定インターポーザ IConnect® TDR/Sパラメータ解析ツール 導電性エラストマ・インターコネクト Tweet Share Hatena Pocket RSS feedly Pin it