Galaxy社の製品

Galaxy社は、半導体の技術的生産性の向上、IC LSI 歩留まりの改善、DPM(defects per million)レベルの低減を目的とした製品群を提供しています。また、これらの製品は、迅速簡単に使用することができるソフトウェアです。

デスクトップ・テストデータ解析

Galaxy社の基幹製品であるExaminatorは、半導体プロダクト・エンジニアやIC LSIテスト・エンジニアのために、新しいテストプログラムやICの評価、歩留まり偏位の発見や診断、進行中の半導体生産品質のモニタリング機能を提供します。　Examinatorは、標準のICテスト・データ・ファイル(STDF, ATDF) を使って包括的な統計レポートを生成します。また、根本的原因解析のための対話形式によるデータのドリル・ダウン解析も可能です。

Examinatorの代表的なアプリケーションとしては：

• PVTコーナーケース解析
• LSIテストプログラムの規格調整
• LSIテスタ、ロードボード相関調査
• LSIテスト時間最適化
• 半導体製造歩留まり傾向モニタリング
• 半導体製造歩留まり問題の根本的原因解析
• 半導体製造サブコン認定

PAT & DPM低減

Galaxy社のPAT-MANは、PAT(Part Average Testing)のための包括的なソリューションであり、評価ロットのイニシャル・ウェハからLSIファイナル・テストの半導体歩留まりモニタリングまでの全体のPATプロセスを管理するDPM低減テクニックを提供します。

主な機能：

• 高速なレシピ生成と歩留まり判断
• 半導体 低歩留まり影響のための自動適応ルール
• PＡＴ歩留まりモニタリングとレポーティング
• 半導体製造過程への簡単な統合

自動歩留まりモニタリング

Galaxy社のYield-MANは、ファブレス会社、IDMやLSIテスト・サブコンが自動的に生産のICテスト歩留まりデータを管理することができる包括的な半導体歩留まり管理ソリューションです。Yield-MANは、定期レポート生成やEメール警告発信などの柔軟な無人半導体歩留まりモニタリング・ソリューションを構築するLSIテストデータ解析プロセスを自動化します。

主な機能：

• LSIテスト自動データ収集
• 再テストデータのオートマージ
• プログラマブルな半導体歩留まりアラームとICテストビンアラーム
• LSIテスト　カスタマイズ・レポーティング
• 対話形式のICテストデータ・ドリル・ダウン・データ解析
• 半導体テストWIP追跡

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