yieldHUBは、クラウドを利用した歩留まり管理システムで、世界中のファブレス、IDM、OSATに活用されています。

yieldHUBは半導体テストの専門知識や分析技術と、進化を続けるクラウドネットワークデータベースを組み合わせる事で、費用対効果の高いソリューションを提供します。

  • データモデルはWafer1枚から数ロト分、数MB~数TBとスケーラブルです。
  • 対象データをアップロードするだけでデータベースに取り込みます。
    これは巧妙なデータ処理と革新的なデータベース設計により、数百ものウェハに相当するデータを短時間で分析します。分析作業はWebブラウザーを使用して行われます。
  • 世界のFabless、IDM、OSATの各企業で利用が進んでおり、そこから構築されたナレッジベースの共用化等World Wideサポートをリアルタイムに提供しています。
  • 独自のSecurity環境構築が必須の企業にはオンプレミスオプションがあります。

Base Core System

Base Core System
  • AWS (Amazon Web Service)
    • High Security yieldHUBホスト
    • 顧客単位で独立のFirewall
    • 1GB ~数TBのデータ
    • 短時間処理プロセス
  • On Premise (option)
    • ユーザ拠点での独自Hosting

エンジニアリングツール

  • パラメトリック解析
  • ビン解析
  • インデックス相関
  • Engineering Data Base
  • テストタイム解析
  • レポートの即時共有
  • ナレッジベース&コメント
  • 半導体固有のチャート

新製品立上評価

エンジニアリング機能に追加して:

  • 特性評価
  • Gage R&R(Repeat & Reproduce)
  • 感度分析(Sensitivity)
  • 仮想再テスト(Virtual Retest)
  • 計算処理テスト(Calculated)

量産対応

  • 自動データ取り込み
  • 生産量データのスケーリング
  • 歩留まり、Bin & Parametrice Aleart
  • Bin & Parametrice Trend
  • Bin & Parametrice Search
  • レポートのスケジューリング
  • プログラム変更の検出
  • WAT/PCM解析
  • ANOVA(分散解析)

カスタムツール

  • Integration with MES(Manufacturing Execution System)
  • In Line Fab data
  • Combined Electrical Data Report
  • Multi Substrate相関
  • 耐放射線評価
  • リアルタイム SPC (Statistical Process Control)

yieldHUBのご紹介ー会社と製品の概要説明

機能概要デモビデオ

製品サポート特設サイトでは、追加のデモビデオをご覧頂けます