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Create Date | 2021年6月7日 |
Last Updated | 2021年6月7日 |
昨今の半導体テストではGBクラスのログが毎日のように生成され、歩留管理、解析、改善に
活用される時代になりました。そんな中、大量のデータをまるで小規模データと同様なスピード感で
処理するyield management platformがあります。
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