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Create Date | 2021年8月16日 |
Last Updated | 2021年8月16日 |
Aehr Test Systems社は ロジック、オプティカル、メモリーICのバーンインとテストを行う ロジック、オプティカル、メモリーICのバーンインとテストのためのテストシステムを提供しています。パッケージ、ウェハレベル、シンギュレートダイ/モジュールレベルでの モジュールレベルのテストソリューションを提供しています。