JF Microtechnologyでは,IC/LSIプロダクションにおけるOEE(設備総合効率)を重視した,各種リード/リードレスパッケージ対応のテストソケットをラインアップしています。独自のコンタクトピンとハウジング構造を採用,大電流/ケルビンテストや高周波アナログテストなど,評価から量産まで幅広くカバーしています。